13. DEZEMBER 2018

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Handlingszeit verkürzt


Die IPTE Factory Automation hat ihren Easy-Test-Handler ETH durch den Einsatz eines neuen leistungsfähigeren Spindelgetriebes schneller gemacht.

Der Testkopf lässt sich in der neuen Ausführung nun um 25 Prozent schneller bewegen. Diese Funktion verkürzt die Handlingszeit, so das Unternehmen.

 

Mit dem Easy-Test-Handler ETH von IPTE lassen sich In-Circuit- oder Funktionstest- sowie Programmierprozesse inline automatisieren. Der ETH eignet sich für den Einsatz mit Einzel-Leiterplatten, Leiterplatten-Nutzen oder entsprechenden Werkstückträgern für Leiterplatten.

 

Es können ein- oder beidseitige Kontaktierungen realisiert werden. Die Kontaktierungsadapter lassen sich einfach und schnell tauschen.

 

Optional kann der Test-Handler mit einem Bypass-Bandsegment ausgerüstet werden, um mehrere Test-Handler parallel zu betreiben. Dies erlaubt einen kontinuierlichen Produktionsverlauf, so dass der laufende Testvorgang den Produktionsfluss nicht blockiert.

 

Dank der Bypass-Strecke des ETH kann der Leiterplattentransport gleichzeitig während des Leiterplattentests erfolgen. Dies verkürzt die Handlingszeit. Der Bypass kann zudem zur Optimierung der Taktzeit eingesetzt werden.

 

Der IPTE Easy-Test-Handler ETH lässt sich in ein automatisiertes SMEMA-kompatibles Testumfeld integrieren und ist tauglich für Industrie 4.0-Anwendungen.

 

Für 19 Zoll-Test-Equipment (10 HE) ist ausreichend Platz vorhanden. Das integrierte LC-Touch-Display erlaubt den Zugriff auf alle erforderlichen Parameter für die Programmierung der Testabläufe.

 

www.ipte.com

Datum:
06.12.2018
Unternehmen:
Bilder:
© IPTE

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