Handlingszeit verkürzt

Die IPTE Factory Automation hat ihren Easy-Test-Handler ETH durch den Einsatz eines neuen leistungsfähigeren Spindelgetriebes schneller gemacht.

06. Dezember 2018
Der IPTE Easy-Test-Handler ETH. © IPTE
Bild 1: Handlingszeit verkürzt (Der IPTE Easy-Test-Handler ETH. © IPTE)

Der Testkopf lässt sich in der neuen Ausführung nun um 25 Prozent schneller bewegen. Diese Funktion verkürzt die Handlingszeit, so das Unternehmen.

 

Mit dem Easy-Test-Handler ETH von IPTE lassen sich In-Circuit- oder Funktionstest- sowie Programmierprozesse inline automatisieren. Der ETH eignet sich für den Einsatz mit Einzel-Leiterplatten, Leiterplatten-Nutzen oder entsprechenden Werkstückträgern für Leiterplatten.

 

Es können ein- oder beidseitige Kontaktierungen realisiert werden. Die Kontaktierungsadapter lassen sich einfach und schnell tauschen.

 

Optional kann der Test-Handler mit einem Bypass-Bandsegment ausgerüstet werden, um mehrere Test-Handler parallel zu betreiben. Dies erlaubt einen kontinuierlichen Produktionsverlauf, so dass der laufende Testvorgang den Produktionsfluss nicht blockiert.

 

Dank der Bypass-Strecke des ETH kann der Leiterplattentransport gleichzeitig während des Leiterplattentests erfolgen. Dies verkürzt die Handlingszeit. Der Bypass kann zudem zur Optimierung der Taktzeit eingesetzt werden.

 

Der IPTE Easy-Test-Handler ETH lässt sich in ein automatisiertes SMEMA-kompatibles Testumfeld integrieren und ist tauglich für Industrie 4.0-Anwendungen.

 

Für 19 Zoll-Test-Equipment (10 HE) ist ausreichend Platz vorhanden. Das integrierte LC-Touch-Display erlaubt den Zugriff auf alle erforderlichen Parameter für die Programmierung der Testabläufe.